IEC 62321-1、-2、-3-1、-3-2、-4和-5的2013版已通過(guò)最終國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)版草案(FDIS) 階段，目前已正式公布。有關(guān)電子產(chǎn)品CE認(rèn)證中特定有害物質(zhì)測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)- IEC 62321，概述了電子產(chǎn)品CE認(rèn)證的測(cè)試方法，以確定產(chǎn)品中的有害化學(xué)物質(zhì)濃度低于歐盟有害物質(zhì)限制指令(RoHS)法律中制定的有害化學(xué)物質(zhì)濃度。如同以往，2008版的IEC 62321標(biāo)準(zhǔn)也經(jīng)過(guò)了一段維護(hù)周期，現(xiàn)今再將最佳的操作和先進(jìn)的技術(shù)引入測(cè)試程序，以確保實(shí)驗(yàn)的一致性和可靠度，滿足標(biāo)準(zhǔn)的制定。

　　IEC 標(biāo)準(zhǔn)范圍

　　62321-1簡(jiǎn)介和概述

　　62321-2樣品的拆卸、拆解和機(jī)械拆分

　　62321-3-1使用X射線熒光光譜儀對(duì)電子產(chǎn)品中的鉛、汞、鎘、總鉻和總溴進(jìn)行篩選

　　62321-3-2使用C-IC對(duì)聚合物和電子產(chǎn)品中的總溴進(jìn)行篩選

　　62321-4使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測(cè)定聚合物、金屬和電子材料中的汞

　　62321-5使用AAS、AFS、ICP-OS和ICP-MS確定聚合物和電子材料中的鎘、鉛和鉻，以及金屬中的鎘和鉛

　　2013版的最主要變化在于將文件拆分成一系列標(biāo)準(zhǔn)，以利標(biāo)準(zhǔn)維護(hù)，同時(shí)導(dǎo)入新的測(cè)試方法或儀器，例如燃燒- 離子層析儀(C-IC) 和冷蒸汽原子熒光光譜儀(CV-AFS)。

　　在完成上述系列標(biāo)準(zhǔn)之后，目前還有另外四份標(biāo)準(zhǔn)正處于不同草案編制階段; PBB/PBDE (IEC 62321-6)、六價(jià)鉻(IEC 62321-7-1和-2) 以及鄰苯二甲酸酯(IEC 62321-8) 的測(cè)試方法。

　　這些標(biāo)準(zhǔn)預(yù)計(jì)公布日期如下:

　　●2014年2月- IEC 62321-6

　　●2014年4月- IEC 62321-7-1

　　●2014年11月- IEC 62321-7-2

　　●2015年3月- IEC 62321-8